聯(lián)系人:王存帆
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ElektroPhysik代理QuintSonic 7超聲波測(cè)厚儀
ElektroPhysik代理QuintSonic 7超聲波測(cè)厚儀:測(cè)量面方位對(duì)于測(cè)量沒(méi)有影響,注意技術(shù)數(shù)據(jù)表中所列的Z 小測(cè)量范圍和基體的厚度。 六、在曲面上測(cè)量 測(cè)量圓柱或圓形邊緣時(shí),可以利用儀器測(cè)嘴上的 V 型口。
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EPK麥考特機(jī)械式測(cè)厚儀G6
EPK麥考特機(jī)械式測(cè)厚儀G6:EPK麥考特G6測(cè)厚儀 MIKROTEST S5 0.5-5mm 5%讀值 MIKROTEST S10 2.5-10mm 5%讀值 MIKROTEST S20 7.5-20mm 5%讀值
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EPK德國(guó)原裝MiniTest7400涂層測(cè)厚儀
EPK德國(guó)原裝MiniTest7400涂層測(cè)厚儀,具有精度高,測(cè)量范圍廣特點(diǎn),涂層厚度測(cè)量可達(dá)15 mm,更換探頭測(cè)量厚度可達(dá)35mm。使用簡(jiǎn)易。大背光按鍵,即使戴著手套操作也倍感舒適。大背光圖形顯示頻提供的觀察效果,即使在晚上或能見(jiàn)度極低的條件下使用也極其方便。主要用于涂料或者非鐵金屬陽(yáng)極氧化涂層等厚度測(cè)試.
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MIKROTEST G6麥考特測(cè)厚儀EPK代理
MIKROTEST G6麥考特測(cè)厚儀EPK代理:測(cè)量面方位對(duì)于測(cè)量沒(méi)有影響,注意技術(shù)數(shù)據(jù)表中所列的Z 小測(cè)量范圍和基體的厚度。 六、在曲面上測(cè)量 測(cè)量圓柱或圓形邊緣時(shí),可以利用儀器測(cè)嘴上的 V 型口。
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EPK麥考特MIKROTEST G6測(cè)量
EPK麥考特MIKROTEST G6測(cè)量:工作原理:Mikrotest 麥考特依據(jù)磁吸引力原理。 測(cè)量磁鋼(3)與磁性基體(鋼或鎳)間的磁吸力與盤狀彈簧 (6)的彈力平衡。盤狀彈簧的旋轉(zhuǎn)彈力的大小與涂層厚度直接相 關(guān)。平衡臂(4)保證了各種方位的準(zhǔn)確測(cè)量(如在垂直面或仰面 測(cè)量)
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