麥考特MIKROTEST G6磁性測厚儀的詳細資料:
品牌 | ElektroPhysik/德國EPK |
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麥考特MIKROTEST G6磁性測厚儀
測量使用要求
1、在平面上測量
測量面方位對于測量沒有影響,注意技術數據表中所列的zui 小測量范圍和基體的厚度。
2、在曲面上測量 測量圓柱或圓形邊緣時,可以利用儀器測嘴上的 V 型口。測量凹面時與測量平面相同,但要注意zui小曲率的 限制。
3、在粗糙表面測量
在粗糙表面測量時,讀數將增大(特別是在顆粒尖上)。 在特別粗糙(如峰值超過50um 的鋼基體上,并且涂層厚度超過 100um 時,實際讀數高于涂層真實厚度達20%之多。在這種情況 下應至少測量6 次以上,得出平均值。
4、檢查度
測厚儀裝有磁鋼,在正常使用時是不會發生變化的。通常只 需偶爾或在懷疑讀數的正確性時去測量厚度標準,進行調整。對 于這種測量可采用EPK 公司的厚度標準件。標 準板厚度表如表二所示。
MIKROTEST系列擁有多達9種型號:
MIKROTEST G6 MIKROTEST F6 MIKROTEST S3 MIKROTEST S5 MIKROTEST S10 MIKROTEST S20 MikroTest NiFe50 MikroTest Ni50 MikroTest Ni100
型 號 | 測量范圍 | 讀值精度 | zui小測量區-直徑 | zui小半徑 凸 凹 mm mm | 基體zui小 厚度mm | 用于 |
MIKROTEST G 6 | 0-100μm | 1μm或5%讀值 | 20mm | 5 25 | 0.5 | 鋼鐵上電鍍層、漆、搪瓷、塑料、橡膠層 |
MIKROTEST F 6 | 0-1000μm | 5μm或5%讀值 | 30mm | 8 25 | 0.5 |
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MIKROTEST 6 S3 | 0.2-3mm | 5%讀值 | 30mm | 15 25 | 1.0 |
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MIKROTEST 6 S5 | 0.5-5mm | 5%讀值 | 50mm | 15 25 | 1.0 |
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MIKROTEST 6 S10 | 2.5-10mm | 5%讀值 | 50mm | 15 25 | 2.0 |
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MIKROTEST 6 S20 | 7.5-20mm | 5%讀值 | 1000mm | 100 150 | 7.0 |
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MIKROTEST 6 Ni50 | 0- 50μm | 1μm+5%讀數 | 15mm | 5 25 | - | 非鐵制基體上鍍鎳 |
MIKROTEST 6 Ni100 | 0- 100μm |
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MIKROTEST NIFE50 | 0-50μm | 2μm + 8%讀值 | 20mm | 10 25 | 0.5 | 鐵上電鍍鎳 |
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