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Fischer代理MP0基本型基本款測厚儀的詳細資料:
品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價格區間 | 1千-5千 |
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Fischer代理MP0基本型基本款測厚儀
Fischer擁有眾多的儀器能夠滿足不同消費者的不同需求。無論是手持便攜式的機器,亦或是臺式X-RAY測厚儀,都能準確無誤的測量出金屬表面涂層的厚度。
我司是Fischer中國區代理,全權負責Fischer中國大陸的銷售、技術支持。
測量涂鍍層厚度
無論是噴涂還是電鍍,無論被測材料有無鐵磁性——在我們眾多產品中,您總能找到可測量鍍層厚度的儀器.
1.電磁測量法: 袖珍式儀器, 手持式儀器, 臺式儀器, 各種探頭
2.X 射線熒光法
3.庫侖法
4.β 背散射法
5.微電阻法
類型 | 產品型號 | 簡介 |
袖珍式儀器 | DUALSCOPE MP0 | 基于自動的基材識別功能和兩種測量法的結合(磁感應/渦流,符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標準),此通用型設備不僅可以對鐵/鋼上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬上的涂層進行測量。 |
袖珍式儀器 | DUALSCOPE MP0R | 基于自動的基材識別功能和兩種測量法的結合(磁感應/渦流,符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標準),此通用型設備不僅可以對鐵/鋼上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬上的涂層進行測量。 |
袖珍式儀器 | DUALSCOPE MP0R-FP | 基于自動的基材識別功能和兩種測量法的結合(磁感應/渦流,符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標準),此通用型設備不僅可以對鐵/鋼上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬上的涂層進行測量 |
手持式儀器 | DELTASCOPE FMP10 | 用于測量非鐵磁性金屬涂層,例如鋼鐵上的鉻、銅、鋅以及涂料、油漆、瓷漆或塑料涂層。 (采用磁感應法,符合DIN EN ISO 2178,ASTM D7091 標準) |
手持式儀器 | ISOSCOPE FMP10 | 用于測量非鐵磁性金屬基材上的涂料、油漆或塑料涂層,鋁上的陽極氧化膜和導電基材上的非導電涂層。 (采用電渦流法測量,符合DIN EN ISO 2360, ASTM D7091標準) |
手持式儀器 | DUALSCOPE FMP20 | 自動識別基材,將兩種測量法相結合(磁感應/電渦流,符合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360標準),此通用型設備不僅可以對鋼鐵上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬和非導電基材上的涂層進行測量 |
手持式儀器 | DELTASCOPE FMP30 | 用于測量非鐵磁性金屬涂層,例如鋼鐵上的鉻、銅、鋅以及涂料、油漆、瓷漆或塑料涂層。 (采用磁感應法,符合DIN EN ISO 2178,ASTM D7091標準) |
手持式儀器 | ISOSCOPE FMP30 | 用于測量非鐵磁性金屬基材上的涂料、油漆或塑料涂層,鋁上的陽極氧化膜和導電基材上的非導電涂層。 (采用電渦流法測量,符合 DIN EN ISO 2360, ASTM D7091標準) |
手持式儀器 | DUALSCOPE FMP40 | 自動識別基材,將兩種測量法相結合(磁感應/電渦流,符合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360標準),此通用型設備不僅可以對鋼鐵上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬和導電基材上的涂層進行測量。 |
手持式儀器 | DUALSCOPE FMP100 | 自動識別基材,將兩種測量法相結合(磁感應/電渦流,符合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360標準),此通用型設備不僅可以對鋼鐵上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬和非導電基材上的涂層進行測量。 |
手持式儀器 | DUALSCOPE FMP15O | 一臺儀器具有三種測量方法(電渦流法、磁感應和霍爾效應)。 采用霍爾效應,擴展了可測量范圍。 所有模塊都根據 DIN EN ISO 2178、 ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標準進行測量 |
手持式儀器 | PHASCOPE PMP10 | 手持式設備,用于非破壞性的測量多種基材上的,包括小型結構和粗糙表面上的導電涂層的厚度 |
手持式儀器 | PHASCOPE PMP10 DUPLEX | 可無損測量鋼鐵上雙涂層(鍍鋅再鍍漆)厚度的手持式儀器 |
臺式儀器 | FISCHERSCOPE MMS PC2 | 臺式設備,用于通用的涂層厚度測量和材料測試,具有彩色觸摸屏、可進行個性化配置并帶有各種設備接口 |
β射線反向散射法 | BETASCOPE | BETASCOPE作為臺式儀器MMS和MMS PC2的測量模塊,是根據β背散射法,由不同材料間的差異,來測量涂鍍層厚度的,特別適用于測量較薄的有機涂層。 |
庫倫法 | COULOSCOPE CMS | 臺式儀器,使用庫倫法測量幾乎所有金屬鍍層厚度,無論基材是金屬或非金屬,無論鍍層結構是單鍍層還是多鍍層。 |
庫倫法 | COULOSCOPE CMS STEP | 測量法對多層涂鍍層系統的電位差進行測量,以及用于金屬或非金屬基材上所有的金屬涂鍍層的庫侖電量涂鍍層厚度測量(單層或多層系統) |
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