菲希爾測厚儀探頭 FAW3.3的詳細資料：

菲希爾測厚儀探頭 FAW3.3

菲希爾測厚儀探頭 FAW3.3：任何一個電磁測量系統的核心都會是探頭，其信號質量zui終決定了計量方案的整體測量質量。 進過多年的研發和創新，FISCHER現在擁有超過100種探頭，可以在各種測量任務中實現具有zui高。

一次測量的質量，主要由幾個關鍵因素決定。包括：選擇適當的探頭和探頭本身的質量等。Helmut FischerGmbH為您提供種類繁多而又品質的高精度探頭，所有探頭都是按照zui高的品質要求自行開發和生產。

鍍層/底材的種類是選擇探頭zui重要的依據。另外，鍍層的大致厚度、底材的材料、測量點的面積以及樣品的形狀和表面情況都是選擇探頭時需要考慮的因素。曲率補償探頭（渦流法）適用于不同曲面的樣品；雙觸點探頭能夠在粗糙的表面上得到的結果。FMP10、FMP20、FMP30、FMP40型儀器都可以通過連接不同的探頭來滿足您不同的測量需求。

產品特點：

• FISCHER 探頭極為堅固并且耐磨損，即使在堅硬表面、經過百萬次的測量，仍然可以長時間地給出測量結果.
• 所有探頭都是按照zui高的質量標準，自主研發和生產的.
• 出廠前對每一個探頭，在多個厚度點都進行了精心的校準，從而確保了zui高的度
• FISCHER擁有電導率補償技術，應用于所有電渦流法探頭中，可以對不同電導率基材進行修正，如各種鋁合金等，節省了在現場對實際基材校準的時間，并仍能實現*的準確度.
• 設計了特殊的電渦流法探頭，在測量彎曲的物體時可以自動對曲率影響進行補償.
• FISCHER 專家能夠（根據需求）開發出特殊的探頭設計，以便在測量時可以提供zui高的測量重復度和準確性. 

基于幾個標準的探頭選擇：

• 涂層和基體材料的組合材料
• 涂層和基體材料的厚度
• 測量區域的尺寸
• 樣品形狀
• 測量面積的表面狀態

下面的圖表顯示了選擇探頭的標準流程。我們的探頭庫中擁有超過100種適合不同應用的探頭，除此之
外，Helmut Fischer GmbH還能為您的應用特別定制探頭。